SMT制程溫控難控、虛焊頻發?紅外熱像儀,PCB熱缺陷一站式可視化檢測利器

01. 行業痛點:60%電子不良源于溫度異常
隨著電子產品微型化升級,BGA、QFN、0201微型元件成為SMT主流,高達60%的電子不良故障直接源于溫度異常波動,是生產良率的核心制約因素。
有以下原因:

02. 解決方案:非接觸全域紅外成像技術
配套SMT全流程專用紅外熱像儀,聚焦PCBA通電檢測與新品熱設計驗證核心場景,無需接觸即可捕捉整板全域溫度場,從源頭規避傳統單點測溫的盲區與滯后性。

全球尖端硬件 | |
| 主芯片采用 韓國SAMSUNG四核芯片 | 探測器采用 法國Lynred紅外探測器 |
FPGA采用 美國Xilinx可編程邏輯器件 | 電源芯片采用 美國Texas Instruments芯片 |

翻倍幀頻,捕捉細微的溫度變化
全輻射幀頻提升至60H2,感受更流暢、更清晰的圖像!

研發專用測試臺,輕松實現升降、旋轉、固定等實用調節動作
20um、50μm和100um可選鏡頭,助力用戶獲取微觀結構溫度分布熱圖及詳細溫度數據
手動對焦設計,更有利于精細準確對焦,以便獲取精準熱圖

應用案例
FOTRIC熱像儀搭配20μm微距鏡拍攝電極蝕刻


電子設備的可靠性、壽命與溫度緊密相關。電路板,尤其是功率電路的發熱受設計、器件選型、散熱設計、生產工藝等因素影響,需要大量測試與優化,以保證推向市場的產品性能穩定。



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